《電子技術應用》
您所在的位置:首頁 > EDA與制造 > 業(yè)界動態(tài) > 消息稱三星HBM3E芯片第三次未通過英偉達認證

消息稱三星HBM3E芯片第三次未通過英偉達認證

2025-06-13
來源:TechSuger
關鍵詞: 三星 HBM 英偉達

據(jù)香港券商報告,三星電子2025年6月未能通過第三次英偉達12層HBM3E芯片認證。

三星電子目前計劃于9月進行第四次認證。

三星最新的認證工作未能達到英偉達的標準,這為其進入下一波AI工作負載HBM供應的時間表帶來了進一步的不確定性。

盡管三星提前提升了HBM3E的產量,但由于未能獲得認證,其供應計劃被推遲。

與此同時,美光科技似乎正取得新進展。

美光公司利用韓美半導體的熱壓鍵合(TCB)設備,提高8層和12層HBM3E芯片的良率。

12層HBM3E芯片的良率已達到70%,而8層HBM3E芯片的良率則達到75%。


Magazine.Subscription.jpg

本站內容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉載內容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點。轉載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權歸版權所有權人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內容無法一一聯(lián)系確認版權者。如涉及作品內容、版權和其它問題,請及時通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當措施,避免給雙方造成不必要的經濟損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。