基于ATE的千級數量管腳FPGA多芯片同測技術
所屬分類：技術論文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>3523 K
標簽： 現(xiàn)場可編程門陣列 自動化測試系統(tǒng) 多芯片同測
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：隨著超大規(guī)模FPGA芯片技術發(fā)展，芯片管腳數量提升到1 000以上，如何實現(xiàn)超大規(guī)模多引腳FPGA芯片高效測試成為ATE在線測試難點。針對一款千級數量管腳超大規(guī)模的FPGA芯片，基于FPGA的可編程特性，采用多芯片有效pin功能并行測試和單芯片全pin電性能參數測試相結合的方法進行ATE測試，實現(xiàn)了千級數量管腳FPGA芯片的4芯片同測，測試效率提升3倍多。
現(xiàn)在下載
VIP會員，AET專家下載不扣分；重復下載不扣分，本人上傳資源不扣分。